在當今快速發(fā)展的微電子技術(shù)中，集成電路（IC）封裝的質(zhì)量與可靠性是確保電子產(chǎn)品性能穩(wěn)定性和使用壽命的核心要素。隨著電子設(shè)備向小型化、高性能化和高可靠性方向發(fā)展，IC封裝的每一個環(huán)節(jié)都必須經(jīng)過嚴格的質(zhì)量檢測和評估。其中，金球剪切力測試作為一種關(guān)鍵的檢測手段，因其能夠直接反映焊點的機械強度和連接可靠性，而被廣泛應(yīng)用于半導體封裝工藝的質(zhì)量控制中。

金球剪切力測試的核心在于精確測量焊點在剪切力作用下的失效強度，這對于評估封裝工藝的優(yōu)劣、優(yōu)化生產(chǎn)流程以及提升產(chǎn)品質(zhì)量具有重要意義。

本文科準測控小編將深入探討Beta S100推拉力測試機在IC金球剪切力測試中的應(yīng)用，從設(shè)備的性能特點、測試流程的優(yōu)化，到實際測試結(jié)果的分析，qaun方位展示其在提升IC封裝質(zhì)量檢測中的關(guān)鍵作用。

一、測試目的

IC金球剪切力測試旨在通過施加剪切力直至焊點破壞，測量其最大抗剪強度，從而評估焊點的機械性能和可靠性。這一測試可識別封裝工藝中的潛在問題，優(yōu)化工藝參數(shù)，確保焊點在實際使用中的穩(wěn)定性。同時，作為標準化質(zhì)量控制手段，它能保障大規(guī)模生產(chǎn)中每一批次產(chǎn)品的質(zhì)量一致性。

二、測試原理

IC金球剪切力測試是一種用于評估半導體封裝中焊點機械強度和可靠性的關(guān)鍵檢測方法。其測試原理是通過專用設(shè)備對焊點施加垂直于焊點表面的剪切力，直至焊點發(fā)生破壞，同時實時監(jiān)測并記錄施加的力值和焊點的位移變化。測試過程中，高精度傳感器能夠精準捕捉焊點在受力過程中的微小形變，并記錄失效時的最大剪切力值。通過分析焊點的失效模式（如焊點斷裂、基板分離等），可以進一步判斷焊點的連接質(zhì)量和封裝工藝的優(yōu)劣。

三、測試設(shè)備和工具

1、Beta S100推拉力測試機

A、設(shè)備介紹

Beta S100推拉力測試機是一款專為微電子封裝行業(yè)設(shè)計的高精度測試設(shè)備。它能夠滿足多種封裝形式的測試需求，包括QFN、BGA、CSP、TSOP等，并支持靜態(tài)和動態(tài)的拉力、推力及剪切力測試。其廣泛的應(yīng)用范圍覆蓋了半導體封裝、LED封裝、光電子器件、PCBA電子組裝、汽車電子以及航空航天等多個領(lǐng)域。

B、核心優(yōu)勢

a、高精度測量

采用先進的傳感器技術(shù)和自主研發(fā)的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，Beta S100能夠提供高精度的測試數(shù)據(jù)，確保測試結(jié)果的可靠性和重復性。

b、多功能設(shè)計

設(shè)備支持多種測試模塊的更換，用戶可根據(jù)具體需求選擇合適的模塊。系統(tǒng)會自動識別并調(diào)整到最佳量程，極大地提高了設(shè)備的靈活性和適用性。

c、智能化操作

配備專用軟件，操作界面簡潔直觀，功能強大。設(shè)備自帶SPC（統(tǒng)計過程控制）等多種數(shù)據(jù)統(tǒng)計功能，支持多種數(shù)據(jù)輸出格式，便于用戶進行數(shù)據(jù)分析和報告生成。

d、自動化測試

Beta S100配備智能視覺系統(tǒng)和深度學習技術(shù)，可自動識別測試位置，減少人工誤差，提高測試效率和準確性。

2、推刀

3、常用工裝夾具

4、實測案例

四、測試流程

步驟一、準備工作

1、設(shè)備檢查

確認Beta S100推拉力測試機的傳感器、夾具和顯微鏡等部件正常工作。

檢查設(shè)備是否完成校準，并確保其精度符合測試要求。

2、樣品準備

選取待測IC樣品，確保其表面清潔且無污染。

標記測試點（金球位置），以便于后續(xù)測試定位。

3、測試參數(shù)設(shè)置

根據(jù)樣品類型和測試要求，設(shè)置測試參數(shù)，包括剪切速度（通常為1-10 mm/s）、剪切角度（垂直于焊點表面）和測試力范圍。

步驟二、測試操作

1、安裝樣品

將待測IC樣品固定在測試機的夾具上，確保樣品穩(wěn)定且無松動。

2、對準與定位

使用顯微鏡對準金球焊點，確保剪切工具與焊點表面垂直（90°±5°），并調(diào)整位置使其對準焊點中心。

3、啟動測試

在設(shè)備控制軟件中輸入測試參數(shù)，啟動測試程序。

設(shè)備自動施加剪切力，直至焊點破壞。

4、數(shù)據(jù)記錄

實時記錄施加的剪切力值和位移變化，設(shè)備會自動保存最大剪切力值和對應(yīng)的位移數(shù)據(jù)。

步驟三、結(jié)果分析

1、觀察失效模式

測試完成后，通過顯微鏡觀察焊點的失效模式，如焊點斷裂、基板分離或焊料剝離等。

2、數(shù)據(jù)分析

分析最大剪切力值是否符合設(shè)計要求和工藝標準。

若結(jié)果異常，需進一步檢查焊接工藝參數(shù)或材料問題。

3、報告生成

根據(jù)測試數(shù)據(jù)和失效模式，生成測試報告，包括剪切力值、失效模式、測試參數(shù)和結(jié)論。

步驟四、后續(xù)處理

1、設(shè)備清潔與維護

測試完成后，清理設(shè)備和夾具，確保無殘留焊料或污染物。

對設(shè)備進行常規(guī)維護，以保證其長期穩(wěn)定運行。

2、工藝優(yōu)化

根據(jù)測試結(jié)果，調(diào)整焊接工藝參數(shù)（如溫度、時間、焊料成分等），以提高焊點強度和封裝可靠性。

3、數(shù)據(jù)存檔

將測試數(shù)據(jù)和報告存檔，以便后續(xù)質(zhì)量追溯和工藝改進。

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