在電子制造領(lǐng)域，電阻的焊接質(zhì)量直接影響到電子產(chǎn)品的性能和可靠性。為了確保電阻在實際使用中的穩(wěn)定性，推力測試成為了一種重要的質(zhì)量檢測手段。本文科準(zhǔn)測控小編將詳細(xì)介紹利用Alpha W260推拉力測試機進行電阻推力測試的方法、原理及設(shè)備特點。

一、為什么要進行電阻推力測試

電阻作為電子電路中最基本的元件之一，廣泛應(yīng)用于各種電子產(chǎn)品中。其焊接質(zhì)量的優(yōu)劣直接決定了電路的穩(wěn)定性和可靠性。電阻推力測試通過對電阻焊點施加外力，模擬實際使用中可能遇到的機械應(yīng)力，從而評估焊點的強度和可靠性。這一測試方法不僅能夠提前發(fā)現(xiàn)潛在的焊接缺陷，還能為優(yōu)化生產(chǎn)工藝提供重要參考。

二、檢測原理

阻推力測試的檢測原理是通過對電阻焊點施加逐漸增大的力，直至焊點發(fā)生破壞，從而測量其極限抗推力值。這一過程利用高精度的推拉力測試設(shè)備，通過精確控制施力速度和方向，實時監(jiān)測并記錄推力與焊點變形的關(guān)系。最終，通過分析焊點的破壞力值和破壞形態(tài)，評估其焊接質(zhì)量是否符合設(shè)計和工藝要求，從而為電子制造過程中的質(zhì)量控制和工藝優(yōu)化提供科學(xué)依據(jù)。

三、測試設(shè)備和工具

1、Alpha W260推拉力測試機

1）設(shè)備介紹

Alpha W260推拉力測試機是一款專為微電子領(lǐng)域設(shè)計的高精度動態(tài)測試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體封裝測試、LED封裝測試、光電子器件封裝測試以及PCBA電子組裝測試等領(lǐng)域。該設(shè)備具有以下特點：

a、高精度：采用24Bit超高分辨率數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，確保測試數(shù)據(jù)的高精度、高重復(fù)性和高再現(xiàn)性。

b、多功能：支持多種測試模式，包括推力、拉力、剪切力等，適用于多種封裝形式。

c、操作簡便：配備搖桿操作和X、Y軸自動工作臺，提高測試效率。

d、安全設(shè)計：每個工位均設(shè)有獨立安全高度和限速，防止誤操作損壞測試針頭。

e、適應(yīng)性強：能夠自動識別并更換不同量程的測試模組，適應(yīng)不同產(chǎn)品的測試需求。

f、數(shù)據(jù)精準(zhǔn)：配備高速力值采集系統(tǒng)，確保測試結(jié)果的精確性。

此外，Alpha W260還支持定制化夾具和推刀，以滿足不同產(chǎn)品的測試需求。其應(yīng)用范圍廣泛，包括半導(dǎo)體IC封裝、LED封裝、光電子器件封裝、PCBA電子組裝、汽車電子、航空航天、軍工等領(lǐng)域。

2）待測電阻樣品（已焊接在電路板上）

3）常用推刀

4）實測案例

四、測試流程

步驟一、設(shè)備檢查

確保Alpha W260推拉力測試機處于正常工作狀態(tài)，檢查設(shè)備的電源、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和機械部件是否正常。

校準(zhǔn)測試機的推刀，確保其垂直度和水平度符合要求。

檢查測試夾具是否清潔且無損傷。

步驟二、樣品準(zhǔn)備

選擇待測電阻樣品，確保其焊接質(zhì)量良好，無明顯焊接缺陷。

使用顯微鏡檢查電阻焊點的狀態(tài)，記錄焊點的外觀特征。

將電阻樣品固定在測試夾具中，確保其位置穩(wěn)定且無松動。

步驟三、參數(shù)設(shè)置

根據(jù)電阻的規(guī)格和測試要求，設(shè)置測試機的推刀速度（通常為0.5~5 mm/s）。

設(shè)置推力測試的上限值（根據(jù)電阻焊點的預(yù)期強度）。

確保測試機的自動停止功能開啟，以防止過度施力損壞設(shè)備。

步驟四、測試步驟

1、安裝樣品

將待測電阻樣品固定在測試夾具中，確保電阻焊點與推刀的接觸位置準(zhǔn)確。

調(diào)整夾具位置，使推刀能夠垂直作用于電阻焊點。

2、開始測試

啟動推拉力測試機，推刀開始緩慢施加推力至電阻焊點。

觀察測試機的顯示屏，記錄推力值隨時間的變化曲線。

當(dāng)焊點發(fā)生破壞或達到預(yù)設(shè)的上限值時，測試機自動停止。

3、數(shù)據(jù)記錄

記錄焊點破壞時的最大推力值。

使用顯微鏡觀察焊點的破壞形態(tài)，記錄破壞位置（如焊點內(nèi)部、焊盤與焊點連接處等）。

如果焊點未破壞，記錄達到上限值時的推力值。

4、重復(fù)測試

為了確保測試結(jié)果的可靠性，建議對同一規(guī)格的電阻樣品進行多次測試（通常不少于3次）。

計算多次測試結(jié)果的平均值和標(biāo)準(zhǔn)差，以評估測試數(shù)據(jù)的重復(fù)性和一致性。

步驟五、結(jié)果分析

1、數(shù)據(jù)分析

比較焊點破壞時的最大推力值與設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)或行業(yè)規(guī)范的要求。

如果推力值低于標(biāo)準(zhǔn)值，說明焊點強度不足，可能需要優(yōu)化焊接工藝。

如果推力值高于標(biāo)準(zhǔn)值，說明焊點強度良好，但需注意避免過度設(shè)計。

2、破壞形態(tài)分析

根據(jù)焊點的破壞形態(tài)，判斷焊接質(zhì)量是否存在缺陷。例如，焊點內(nèi)部破壞可能表明焊接材料或工藝問題；焊盤與焊點連接處破壞可能表明PCB設(shè)計或焊接參數(shù)問題。

3、報告撰寫

撰寫測試報告，包括測試目的、測試設(shè)備、測試樣品、測試步驟、測試結(jié)果和分析結(jié)論。

提出改進建議，如優(yōu)化焊接工藝、改進PCB設(shè)計或更換焊接材料等。

以上就是小編介紹的有關(guān)于電阻推力測試相關(guān)內(nèi)容了，希望可以給大家?guī)韼椭?！如果您還想了解更多關(guān)于電阻推力圖片、測試標(biāo)準(zhǔn)、測試方法和測試原理，推拉力測試機怎么使用視頻和圖解，使用步驟及注意事項、作業(yè)指導(dǎo)書，原理、怎么校準(zhǔn)和使用方法視頻，推拉力測試儀操作規(guī)范、使用方法和測試視頻 ，焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題，歡迎您關(guān)注我們，也可以給我們私信和留言，【科準(zhǔn)測控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導(dǎo)體、BGA元件焊點、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問題及解決方案。